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76 Beiträge

Einführung in den Gnu Debugger – Teil 1
Artikel in ESE Report, 2009 Leseprobe: "Der Gnu Debugger, kurz GDB, ist das Schweizer Messer des Programmierers beim Aufspüren von Fehlern in… Weiterlesen
Artikel in ESE Report, 2009
Leseprobe: "Der Gnu Debugger, kurz GDB, ist das Schweizer Messer des Programmierers beim Aufspüren von Fehlern in Programmcode. Er verfügt über eine breite Palette von Funktionen für eine effiziente Fehlersuche."

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01.05.2009

/ Fachartikel

Positronen-Emissions-Tomografie
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2009 Leseprobe: "Hohe Zeitauflösung mit Standard-Komponenten eines Tomografen für die Bildgebung an kleinen Tieren, der… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2009 Leseprobe: "Hohe Zeitauflösung mit Standard-Komponenten eines Tomografen für die Bildgebung an kleinen Tieren, der auf einem neuen Detektorprinzip basiert. Es beruhte auf Detektormodulen mit zwei radialen Kristall-APD-Lagen (APD = Avalanche-(Lawinen-)Photodioden)."

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01.02.2009

/ Fachartikel

Fünf Prinzipien dynamischer Softwaretests
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2008 Leseprobe: "Dynamische Softwaretests haben zum Ziel, ein Programm oder Teile daraus kontrolliert ablaufen zu lassen… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2008 Leseprobe: "Dynamische Softwaretests haben zum Ziel, ein Programm oder Teile daraus kontrolliert ablaufen zu lassen und dadurch Fehlverhalten aufzuspüren. Es versteht sich von selbst, dass die ungeheure Vielfalt von Softwareprogrammen mit zahlreichen Testvariationen einhergeht. Dennoch gibt es eine Reihe von Prinzipien, die für nahezu alle Tests anwendbar sind."

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01.06.2008

/ Fachartikel

FlexRay-Anwendungen evaluieren
elektroniknet.de, 2008 Leseprobe: "Hitex hat mit Infineon Technologies und Mixed Mode das Flex-XC-KIT entwickelt. Damit lassen sich… Weiterlesen
elektroniknet.de, 2008 Leseprobe: "Hitex hat mit Infineon Technologies und Mixed Mode das Flex-XC-KIT entwickelt. Damit lassen sich FlexRay-Anwendungen, die auf Infineons Mikrocontroller-Familie XC2000 basieren, evaluieren und verifizieren."

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04.04.2008

/ Fachartikel

Veränderte EMV-Richtlinien einhalten
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2008 Leseprobe: "Elektrische und elektronische Bauteile, Geräte und Anlagen müssen im internationalen Waren- und… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2008 Leseprobe: "Elektrische und elektronische Bauteile, Geräte und Anlagen müssen im internationalen Waren- und Produktverkehr störungsfrei funktionieren. Seit Juli 2007 gilt eine geänderte europäische EMV-(elektromagnetische Verträglichkeit-) Richtlinie. Wir zeigen Ihnen, welche Störmechanismen es gibt und welche Maßnahmen in der Designphase notwendig sind."

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01.04.2008

/ Fachartikel

Statische Tests: Formale und nicht formale Dokumente richtig nutzen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2008 Leseprobe: "Auf hohe Softwarequalität zu verzichten kann sich heute kein Unternehmen mehr leisten. Umso… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2008 Leseprobe: "Auf hohe Softwarequalität zu verzichten kann sich heute kein Unternehmen mehr leisten. Umso erstaunlicher ist es, dass auf ein bewährtes Instrumentarium für die Messung und Sicherstellung von Qualität zu wenig zurückgegriffen wird: die Begutachtung von projektrelevanten Dokumenten in gedruckter und elektronischer Form. Dazu zählen alle Arten von Spezifikationen, Unterlagen zur Projektlenkung sowie der Programmcode selbst."

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02.02.2008

/ Fachartikel

FlexRay-Evaluierung
Hitex-Info, Ausgabe 02/2008 Leseprobe: "Das Flex-XC-KIT, das im Rahmen einer Kooperation zwischen Hitex, Infineon und Mixed Mode entstand, wird auf… Weiterlesen
Hitex-Info, Ausgabe 02/2008 Leseprobe: "Das Flex-XC-KIT, das im Rahmen einer Kooperation zwischen Hitex, Infineon und Mixed Mode entstand, wird auf der Embedded World 2008 erstmals der Öffentlichkeit vorgestellt."

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01.02.2008

/ Fachartikel

Mehr als ein einfacher Bus-Analyzer
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, Ausgabe 15/2006 Leseprobe: "Hitex und Mixed Mode haben ihr Know-how zusammengetragen und gemeinsam einen Bus-Analyzer… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, Ausgabe 15/2006 Leseprobe: "Hitex und Mixed Mode haben ihr Know-how zusammengetragen und gemeinsam einen Bus-Analyzer für FlexRay und CAN entwickelt. Das ist aber erst der Anfang der Kooperation."

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01.04.2006

/ Fachartikel

Gateway analyzer for automotive applications
Product news, 2006 Leseprobe: "Hitex Development Tools and Mixed Moe are jointly developing and marketing a new product family of bus-analyzers for… Weiterlesen
Product news, 2006 Leseprobe: "Hitex Development Tools and Mixed Moe are jointly developing and marketing a new product family of bus-analyzers for automotive applications."

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01.03.2006

/ Fachartikel

Embedded World
Artikel in Elektronik Journal, 2006 Leseprobe: "Wir warten in diesem Jahr in Nürnberg mit interessanten Neuentwicklungen auf. Hierzu zählen ein… Weiterlesen
Artikel in Elektronik Journal, 2006 Leseprobe: "Wir warten in diesem Jahr in Nürnberg mit interessanten Neuentwicklungen auf. Hierzu zählen ein Multipurpose-Fieldbus-Analyzer, eine ARM-7-Distribution für Linux sowie weitere Projektbeispiele."

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01.02.2006

/ Fachartikel

CAN-Konzentrator bewährt sich
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2005 Leseprobe: "Mixed Mode, Spezialist für Embedded-Systemlösungen, erweitert sein Spektrum an komplexen… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, 2005 Leseprobe: "Mixed Mode, Spezialist für Embedded-Systemlösungen, erweitert sein Spektrum an komplexen Systementwicklungen um ein Integrity-Test-Überwachungs- und Managementsystem mit Schwerpunkt auf Fehlertoleranz durch redundante Auslegung."

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03.12.2005

/ Fachartikel

Zielsicher zur bestmöglichen Software
Artikel in E&E, Ausgabe 12/2005 Leseprobe: "Hinter dem Begriff „Requirements Management“ verbirgt sich eine Aufgabe, ohne die kein Projekt… Weiterlesen

Artikel in E&E, Ausgabe 12/2005

Leseprobe: "Hinter dem Begriff „Requirements Management“ verbirgt sich eine Aufgabe, ohne die kein Projekt durchgeführt werden kann: Die Spezifikation und Verwaltung der Anforderungen, also der gewünschten Funktionalität und der Eigenschaften der zu entwickelnden Software. Requirements Management ist von entscheidender Bedeutung für das Gelingen des Projekts sowie für die spätere Systemqualität und -funktonalität. Allerdings sind für perfektes Requirements Management sowohl eine sinnvolle Vorgehensweise als auch die Kenntnis diverser Fallstricke nötig, damit aus der zu entwickelten Software letztendlich kein zeit- und kostenintensives „Medusenhaupt“ wird."


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02.12.2005

/ Fachartikel

Gateway-Analyzer
Artikel in Automotive, Ausgabe 04/2006 Leseprobe: "Hitex und Mixed Mode entwickeln gemeinsam eine neue Bus-Analyzer-Familie. Als erstes Produkt… Weiterlesen
Artikel in Automotive, Ausgabe 04/2006 Leseprobe: "Hitex und Mixed Mode entwickeln gemeinsam eine neue Bus-Analyzer-Familie. Als erstes Produkt dieser Kooperation zeigte Hitex auf der Embedded World 2006 den Bus-Analyzer Tanto2-BUS."

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01.12.2005

/ Fachartikel

Zertifiziertes Designhaus
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, Ausgabe 22/2005 Leseprobe: "Mixed Mode hat nach eigenen Angaben als erstes deutsches Designhaus die… Weiterlesen
Artikel in ELEKTRONIKPRAXIS, Ausgabe 22/2005 Leseprobe: "Mixed Mode hat nach eigenen Angaben als erstes deutsches Designhaus die Partner-Zertifizierung durch Lattice erhalten. Im Rahmen des sog. "Leader Design Services Program" wurde Mixed Mode aufgrund seiner Projekterfahrungen mit FPGA- und PLD-Produkten von Lattice aufgenommen."

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01.11.2005

/ Fachartikel

Lattice zertifiziert Designhouse
Artikel in Markt & Technik, Ausgabe 25/2005 Leseprobe: "Mixed Mode hat als erstes deutsches Designhouse die Partner-Zertifizierung durch Lattice… Weiterlesen
Artikel in Markt & Technik, Ausgabe 25/2005 Leseprobe: "Mixed Mode hat als erstes deutsches Designhouse die Partner-Zertifizierung durch Lattice erhalten. Die Aufnahme in das Lattice-Partner-Programm setzt den Nachweis hoher Standards in der Qualifikation der Mitarbeiter in Produktwissen und technischer Sachkenntnis sowie herausragende Qualität der Serviceleistungen voraus."

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01.06.2005

/ Fachartikel

Molekulare 3D-Bilder
Artikel in Elektronikjournal, Ausgabe 02/2005 Leseprobe: "An der Nuklearmedizinischen Klinik in München entsteht ein dreidimensionales… Weiterlesen
Artikel in Elektronikjournal, Ausgabe 02/2005 Leseprobe: "An der Nuklearmedizinischen Klinik in München entsteht ein dreidimensionales Diagnosesystem, für das die TU sogenannte Multipath-Sensoren und die Industrie die zugehörige Messeinheit entwickelt haben."

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01.02.2005

/ Fachartikel